華為公開(kāi)“惡意應(yīng)用檢測(cè)”相關(guān)專利,可評(píng)估待檢測(cè)應(yīng)用惡意等級(jí)
作者 :企查查/朗動(dòng)網(wǎng)絡(luò) 2021-04-23 00:04:46 審稿人 : admin 圍觀 : 次 評(píng)論
企查查APP顯示,4月20日,華為技術(shù)有限公司公開(kāi)“一種惡意應(yīng)用的檢測(cè)方法、裝置及存儲(chǔ)介質(zhì)”專利,公開(kāi)號(hào)為CN112689835A。企查查專利摘要顯示,本方法將操作系統(tǒng)在初始狀態(tài)下和在運(yùn)行狀態(tài)下的配置信息進(jìn)行比對(duì),將操作系統(tǒng)的合法應(yīng)用信息和待檢測(cè)應(yīng)用信息進(jìn)行比對(duì),從而對(duì)待檢測(cè)應(yīng)用的安全性進(jìn)行檢測(cè),并評(píng)估待檢測(cè)應(yīng)用的惡意等級(jí),能夠節(jié)省大量的計(jì)算和存儲(chǔ)資源,提高檢測(cè)效率,且對(duì)代碼發(fā)生變化或采用代碼混淆、加殼等技術(shù)的惡意應(yīng)用檢測(cè)仍有效,提高檢測(cè)結(jié)果的準(zhǔn)確性。
編輯 沐沐? 校對(duì) 張瑩瑩
核心關(guān)鍵字: 企業(yè)資訊

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